应用电子产品中故障机理与失效分析方法比较研究
张浩敏 ( 宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司 )
钱雨鑫 ( 宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司 )
汤仕晖 ( 宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司 )
周宁科 ( 宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司 )
https://doi.org/10.37155/2717-5170-0604-43Abstract
本文深入探讨应用电子产品中故障机理与失效分析方法的比较研究。通过对比分析传统失效分析方法与 现代失效分析方法的优势与劣势,揭示不同方法在不同场景下的适用性。研究发现,传统方法直观易行,适用于初步 排查硬件故障;而现代方法则更为系统全面,能够深入揭示故障机理。本文还结合案例研究,展示不同方法在实际项 目中的应用效果。通过本研究,为电子产品故障分析与可靠性提升提供有益参考。
Keywords
电子产品;故障机理;失效分析;比较研究Full Text
PDFReferences
[1]李晓光.刘宁.电子产品故障机理分析与失效预测方
法研究.电子质量,2021.(11),64-68.
[2]陈伟.张明.电子产品失效分析技术的现状与进展.
电子测量技术,2020.45(3),1-6.
[3]王刚.赵亮.基于多物理场仿真的电子产品故障机理
研究.计算机仿真,2020.8(8),177-182.
[4]刘晓华.杨帆.电子产品可靠性评估与失效分析的综
合研究.可靠性工程与产品质量,2022.29(2),1-7.
法研究.电子质量,2021.(11),64-68.
[2]陈伟.张明.电子产品失效分析技术的现状与进展.
电子测量技术,2020.45(3),1-6.
[3]王刚.赵亮.基于多物理场仿真的电子产品故障机理
研究.计算机仿真,2020.8(8),177-182.
[4]刘晓华.杨帆.电子产品可靠性评估与失效分析的综
合研究.可靠性工程与产品质量,2022.29(2),1-7.
Copyright © 2024 张浩敏,钱雨鑫,汤仕晖,周宁科 Publishing time:2024-04-30
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License