微型电子元器件可靠性验证的新方法与技术进展
王建昆 （ 河北远东通信系统工程有限公司 ）
https://doi.org/10.37155/2717-5170-0707-17Abstract
随着电子技术的飞速发展，微型电子元器件在各个领域得到了广泛应用。其可靠性直接关系到电子产品 的性能、寿命和安全性。本文深入探讨了微型电子元器件可靠性验证的新方法与技术进展。首先分析了传统可靠性验 证方法存在的局限性，接着详细阐述了基于加速寿命试验、物理失效分析、智能算法预测等新方法，以及先进的测试 设备和技术在微型电子元器件可靠性验证中的应用。旨在为微型电子元器件可靠性验证领域的研究和实践提供有益的 参考，推动电子行业向更高可靠性、更高质量的方向发展。
Keywords
微型电子元器件；可靠性验证；新方法；技术进展Full Text
PDFReferences
[1]洪流,上官国威.微型断路器动作可靠性相关技术问
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[2]陈白帆,肖飞,陈汐,等.浅谈工程用电子元件产品的
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[3]刘玉龙,吕权权,吴浩,等.基于深度学习的电子元件
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优化设计[J].低温与超导,2023,51(05):37-42.
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Copyright © 2025 王建昆
Publishing time:2025-07-31
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