基于专利分析的质量计量技术发展态势研究
魏 涛 （ 天津三江技术服务有限公司 ）
https://doi.org/10.37155/2972-4333-0308-23Abstract
本研究通过深度挖掘和分析计量质量控制技术领域的专利文献，旨在揭示该领域的技术发展趋势、创新 主体及关键技术领域。利用专利数据库，对计量质量控制技术的专利申请量、技术分布及创新主体等进行统计分析， 为计量工作者、科研机构及企业提供参考，助力技术创新与合作，推动计量质量控制技术的持续进步与发展。
Keywords
专利分析；计量质量技术；发展态势Full Text
PDFReferences
[1]杜晓曼.基于专利分析的质量计量技术发展态势研
究[J].计量与测试技术,2024,51(5):72-74.DOI:10.15988/j.
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[2]杨铭,宋先伟.关于加强市场监管系统计量技术机构
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[3]戚建刚,张晓旋.论新发展格局与知识产权新发展思
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5804.2022.03.012.
[4]程晓英.在新形势下推进计量工作改革创新的思
考[J].中国计量.2021,(11).21-23.DOI:10.16569/j.cnki.cn11-
3720/t.2021.11.008.
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Copyright © 2025 魏 涛
Publishing time:2025-08-31
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