基于专利分析的质量计量技术发展态势研究
魏 涛 ( 天津三江技术服务有限公司 )
https://doi.org/10.37155/2972-4333-0308-23简介
本研究通过深度挖掘和分析计量质量控制技术领域的专利文献,旨在揭示该领域的技术发展趋势、创新 主体及关键技术领域。利用专利数据库,对计量质量控制技术的专利申请量、技术分布及创新主体等进行统计分析, 为计量工作者、科研机构及企业提供参考,助力技术创新与合作,推动计量质量控制技术的持续进步与发展。
关键字
专利分析;计量质量技术;发展态势全文
PDF参考文献
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