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微型电子元器件可靠性验证的新方法与技术进展

王建昆 （ 河北远东通信系统工程有限公司 ）

https://doi.org/10.37155/2717-5170-0707-17

简介

随着电子技术的飞速发展，微型电子元器件在各个领域得到了广泛应用。其可靠性直接关系到电子产品 的性能、寿命和安全性。本文深入探讨了微型电子元器件可靠性验证的新方法与技术进展。首先分析了传统可靠性验 证方法存在的局限性，接着详细阐述了基于加速寿命试验、物理失效分析、智能算法预测等新方法，以及先进的测试 设备和技术在微型电子元器件可靠性验证中的应用。旨在为微型电子元器件可靠性验证领域的研究和实践提供有益的 参考，推动电子行业向更高可靠性、更高质量的方向发展。

关键字

微型电子元器件；可靠性验证；新方法；技术进展

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参考文献

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版权所有 © 2025 王建昆 Creative Commons License 出版时间:2025-07-31
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