某控制器空气放电单片机IO口损坏整改实例
刘红涛 （ 郑州众智科技股份有限公司 ）
https://doi.org/10.37155/2717-5197-0405-76Abstract
针对某控制器的拨码开关进行空气放电导致的单片机IO口损坏问题，通过增加防护器件改变静电干扰电 流的泄放路径，使静电干扰电流远离单片机IO口从而使其满足静电放电抗扰度A级的要求，本文提出了一种空气放电 问题的整改措施、并对静电防护器件放置的位置进行了描述，同时对整个整改措施进行了详细的理论分析。
Keywords
控制器、空气放电、整改措施Full Text
PDFReferences
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[2]EMC电磁兼容设计与测试案例分析/郑军奇编著.-
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[3]物联产品电磁兼容分析与设计/杜佐兵,王海彦编
著.-北京.机械工业出版社,2021.6
[4]电磁兼容设计与整改对策及案例分析/朱立文编
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[5]电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
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Copyright © 2022 刘红涛
Publishing time:2022-05-31
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